QNIX-4500涂層測(cè)厚儀

QNIX-4500涂層測(cè)厚儀

一、簡介

QNix4500是世界上暢銷的涂鍍層測(cè)厚儀，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用極其簡單。QNiX4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀，不僅可以用來測(cè)量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層，可自動(dòng)識(shí)別測(cè)量基體，自動(dòng)轉(zhuǎn)換。操作簡單，攜帶方便，性價(jià)比高，并且可設(shè)置動(dòng)態(tài)平均功能，方便粗糙表面測(cè)量，為廣大用戶所喜愛。

二、參數(shù)

l 測(cè)量范圍：磁性基體（Fe模式 ）：0-3000或0-5000um 非磁性基體（NFe模式 ）：0-3000um

l 顯示精度： 0-99.9 um；0.1um 100-999um；1um≥1mm；0.01mm

l 測(cè)量精度：±(2+3% )um≤3000um；±(2+5% )um > 3000um

l 最小測(cè)量面積：Fe:10x10mm；NFe:6×6mm

l 最小曲率半徑：凸半徑：5mm；凹半徑：25mm

l 最薄基體厚度：Fe:0.2mm；NFe:0.05mm

l 存儲(chǔ)溫度：-10℃-60℃

l 溫度補(bǔ)償范圍：0℃-50℃

l 電源：2x1.5V干電池

l 尺寸：100x60x27mm

l 重量：一體型：105g，分體型：147g